TFX3200
TFX3200——薄膜厚度測量設備
l 可量測多種材料薄膜
l 提供薄膜可靠和精確的厚度、折射率、成分比率和應力測量
l 低持有成本（COO），輸出產能高，具有極高的性價比
l 機械運動性能可靠，穩定性表現卓越
l 功能豐富、易用的軟件和算法
l 全面支持工廠自動化要求
TFX3200——薄膜厚度測量設備
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滬公網安備 31011502016946號